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  • 本发明公开了一种光学膜片的检测方法,涉及光学膜检测技术领域。包括:裁剪光学膜片,获取膜片初步样品;将膜片初步样品竖直放置于模具内;调配金相冷镶嵌料并灌注至模具内,并没过膜片初步样品;待金相冷镶嵌料固化完成并脱模;对支撑块研磨,将检测样品置于...
  • 本发明公开了一种汽车电机铁芯双视角尺寸检测方法及系统,将铁芯工件竖直放置,通过侧面第一视觉相机配合铁芯工件转动采集多组外环宽度数据,建立外环椭圆模型,得到外环圆心与椭圆偏心度;通过顶部第二视觉相机采集俯视图像,提取内环多段独立弧段轮廓,拟合...
  • 本发明公开了一种抗形心偏移的多类圆异形标靶及其双目视觉定位方法,属于工业视觉测量与精密定位技术领域,标靶包括白色背景基板和七个对称分布的黑色圆形,其中中心设一个大圆,正上、正下各设一个标准正圆小圆,四个角部分别设特制类圆小圆,特制类圆小圆依...
  • 本发明涉及光学透镜检测技术领域,具体公开了一种基于传感器的光学透镜安装检测方法及系统,通过在光学透镜检测场景中设置图像传感器装置、透镜安装工位和校准装置,并在校准装置中布置棋盘格校准参考板和多个位置固定的固定基准球。通过设立检测基准点获取相...
  • 本申请提供了一种栅线线宽测量方法及测量装置,可广泛应用于光伏测量技术领域,该栅线线宽测量方法包括:获取待测量栅线的形貌参数,若形貌参数处于预设参数区间,将第一测量单元的测量参数调整为预设测量参数,并通过第一测量单元在预设测量参数下测量待测量...
  • 本公开提出了一种压力驱动装置、位移放大器和检测装置,涉及位移检测技术领域,该装置包括:由多个范德华材料层堆叠组成的测量组件,任一范德华材料层与相邻的范德华材料层之间为非公度接触;测量组件上方施加外力,外力的施力方向垂直于范德华材料层,任一范...
  • 本发明涉及船舶检修与无损检测技术领域,尤其涉及一种裂纹长度测量装置。一种裂纹长度测量装置,包括壳体,设置在壳体底端的光电测量部,壳体内部设置有电源,壳体上还设置有用于接收光电测量部的信号并以长度信号展示的显示部;光电测量部测量轮,测量轮的侧...
  • 本申请公开了一种基于多模态识别与动态称重的线缆长度计量系统及其方法,涉及线缆测量技术领域,系统包括:旋转式称重平台、多模态识别模块、线皮厚度检测单元及数据处理单元;旋转式称重平台用于动态采集线轴基准重量和线缆总重量;多模态识别模块包括至少两...
  • 本发明公开了一种塞拉门测量装置及测量方法,涉及测量技术领域,拟解决现有技术中从外部测量塞出操作困难,甚至有时无法测量,影响列车检修效果和检修效率的技术问题,本发明中包括可插入车门和车体缝隙的主杆,所述主杆上设有测量装置,所述测量装置包括测量...
  • 本发明实施例公开了一种振动位移测量方法及相关装置,属于水下航行器测试技术领域,该方法包括:将位于水下航行器主体耐压壳体内部的相机所采集的反射条纹图像上,各个像素点的条纹图像光强分布、背景光强、条纹对比度、初始载波相位以及系统位移灵敏度系数代...
  • 本发明公开了一种用于实现大行程直接溯源型光栅干涉仪的装置,属于精密位移测量技术领域,包括光栅底板、相干光源和光纤分束器,光栅底板上设置有多个光栅,光栅包括第一光栅、第二光栅、第三光栅、第四光栅和第五光栅;光栅在光栅底板上呈交错排布,光栅均为...
  • 本发明公开了一种自溯源光栅干涉型工件间余弦安装误差原位检测方法,属于精密测量技术领域,包括:在两个待测工件上分别沉积自溯源光栅,进而通过两台协同运动的自溯源光栅干涉仪同时测量光栅干涉信号;将某一个自溯源光栅的周期方向与高精度位移台的运动测量...
  • 本申请公开了一种多规格大直径电梯补偿链测长装置,包括:压紧组件、测量组件以及转化模块。压紧组件包括稳定组件、气缸和下压组件;其中,稳定组件与气缸、下压组件协同压紧电梯补偿链;测量组件位于稳定组件与气缸之间;其中,测量组件用于采集电梯补偿链的...
  • 本申请提供了一种应用于扫描干涉场的单镜双轴位移测量方法及装置,包括:输出垂直正交偏振的差频激光,差频激光包括具有第一频率的第一偏振激光和具有第二频率的第二偏振激光,第一偏振激光为水平偏振,第二偏振激光为垂直偏振;第一偏振激光经过第一平面反射...
  • 本发明属于电缆设备技术领域,具体地说是一种电线电缆长度计量装置及方法,包括支撑架;所述支撑架靠近顶部的两侧均转动连接有支撑臂;两个所述支撑臂远离支撑架的一端分别安装有转动杆和支撑杆,且转动杆由伺服电机一驱动;所述支撑架顶面的一侧固连有支撑板...
  • 本公开的第一方面涉及一种用于确定图像中包括的层的厚度的成像设备,被配置为:获取具有一个或多个层的样本的图像;从用户界面获取指示层的第一边缘的位置的第一估计信息;从用户界面获取指示层的第二边缘的位置的第二估计信息;基于第一估计信息确定层的第一...
  • 本发明公开了一种印制电路板阻焊偏差的检测方法,本发明涉及印制电路板技术领域,解决了阻焊厚度检测则普遍采用单波长激光扫描或接触式测厚方法,单波长激光易受阻焊层表面平整度干扰的问题,本发明通过采用双波长激光分层探测方案,利用可见光无法穿透阻焊油...
  • 一种三维空间计算和视觉还原的受电弓厚度测量方法,其包括如下步骤:步骤1:部署装置;步骤2:参数标定;步骤3:图像采集;步骤4:相位求解;步骤5:坐标转换;步骤6:点云生成;步骤7:点云拼接;步骤8:分析信息;步骤9:输出展示。此外,本发明还...
  • 本发明公开了一种基于太赫兹时域光谱的多层涂层厚度测量方法,属于涂层厚度测量技术领域,包括:利用反射式太赫兹时域光谱系统分别测量金属板上带有涂层的信号及不带有涂层的信号,作为测量信号和参考信号;建立涂层厚度反演模型,对多层涂层信号进行拟合;将...
  • 本发明属于上胶量检测技术领域,具体涉及一种材料复合过程中上胶量的检测方法,包括如下步骤:S1,取主剂和固化剂完全混合的胶水,测量其重量M1;S2,将S1中胶水进行时效处理,测量胶水时效处理后的重量M2和密度ρ;S3,计算胶水在S2中时效条件...
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