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  • 本发明提出一种基于共聚焦显微镜的刀口光阑面积测试装置及方法,属于计量测试技术领域。测量时,将分划板刻线面与刀口光阑被测面贴合,通过共聚焦显微镜沿光阑边缘采集多幅具有重叠区域的局部图像;采用基于滑动窗口二次寻优的自动拼接算法将图像精确拼接成完...
  • 本发明涉及一种大范围长基线干涉条纹跟踪方法,属于光学测量技术领域,解决现有条纹跟踪方法依赖于单波长或有限波段,难以在宽谱段内同时实现高精度与大动态范围测量的问题。该方法包括以下步骤:利用内置光源对干涉方向投射光源;利用反射镜后端所携带的音圈...
  • 本发明公开了一种基于空间光调制器的非球面干涉测量系统。该发明包括激光光源、滤波扩束准直模块、核心干涉光路、4f中继成像模块及图像传感器,滤波扩束准直模块用于产生高质量的准直平行光束,核心干涉光路用于将入射光束分为参考光路和测量光路并对测量光...
  • 本发明属于三维形貌测量领域,并具体公开了一种基于虚拟双差动的结构照明显微镜表面形貌重建方法及系统,其包括:对扫描采集的结构光图像进行SIM重建与调制解调,得到全视场像素的轴向调制响应曲线;将扫描位置沿扫描方向分别向前、向后虚拟移动相同的轴向...
  • 本发明属于高精度形貌测量技术领域,公开了一种自动重聚焦的大测量范围纳米形貌测量方法,包括以下步骤:步骤1,使用OCT系统采集样品的光谱干涉信号,在波数域对该信号进行一维逆傅里叶变换,获得空域复振幅信号;步骤2,基于空域复振幅信号,根据最大信...
  • 本申请提供一种测量系统、方法、上位机、存储介质、程序产品,该测量系统包括:固定工装,所述固定工装包括固定平板以及负压接口,所述固定平板上设有用于固定待测零部件的嵌合槽,所述嵌合槽通过负压管路与所述负压接口连通;表面轮廓测量设备,用于采集所述...
  • 一种立体影像扫描装置,包括线形扫描光模块、平面扫描光模块、影像撷取模块、运动平台及控制模块。线形扫描光模块用以沿一入射角度投射线形光至待测物上。平面扫描光模块用以沿相同的入射角度投射平面光至待测物上。影像撷取模块用以撷取经待测物反射的线形光...
  • 本发明涉及形变检测技术领域,具体为基于视觉识别的钢筋桁架楼承板形变监测方法及系统,包括以下步骤:在钢筋桁架楼承板顶部安装工业相机拍摄参照图像,支架上安装姿态角传感器采集参照姿态角度,检测形变时取当前图像与同步姿态,计算姿态偏差并校正节点像素...
  • 本申请涉及显微光测力学技术领域,公开了微米级多层复合薄膜弯曲变形的测量方法,该方法对观测截面表层活化,利用化学键合原位接枝纳米级光学示踪粒子,构建抗滑移的三维体散斑场;针对高倍率成像极浅景深限制,利用激光扫描共聚焦显微镜在微米级视场下进行深...
  • 本公开涉及工程测量领域,本公开的一种测绘监测系统及测绘监测方法,包括至少一棱镜装置、一个或多个位置监测装置和处理装置。棱镜装置设于待测点位且包括多个棱镜。一个或多个位置监测装置设于一个或多个监测点位,提供发射信号并获得反射信号,且允许被调节...
  • 本申请提供一种海缆形变监测系统及方法,该系统包括:海缆、超弱光纤光栅的自感知光缆、波长解调装置及形变重构装置;在海缆处于伸直状态时,波长解调装置,用于获取超弱光纤光栅的自感知光缆感知的第一波长信息,并将第一波长信息传输至形变重构装置;在海缆...
  • 本发明提供一种无线遥控DIC标定装置, 包括:承托座组件、标定调节组件及标定板夹具,承托座组件中包括承托座本体、上圆槽、方位调节转轴及对接方槽,承托座本体上表面开设有上圆槽,与现有技术相比,本发明具有如下的有益效果:通过设置承托座组件、标定...
  • 本发明公开了一种基于DIC的压力圆筒设备变形评估方法,分别进行应变测试试验和DIC测试试验,并计算两个方法的不同充气压力下的罐体径向变形量之间的标准差,若标准差大于设定阈值,则将应变测试试验对应的充气压力‑径向变形量的变化曲线的图像输入到特...
  • 本发明涉及裂纹扩展监测技术领域,尤其涉及一种极地船裂纹扩展监测方法。所述方法为:筛选船体结构裂纹萌生的热点区域;筛选关键节点;通过在关键节点布置环形光纤传感器,监测关键节点处的应变数据;通过裂纹扩展监测系统对监测数据进行分析,根据不同的区间...
  • 本申请公开了一种应变监测系统、光缆施工工艺,属于管道技术领域。该系统分别从传感光缆的两端射入泵浦光和探测光,泵浦光和探测光发生布里渊散射,布里渊散射光从传感光缆射出,进入光探测器,光探测器将光信号转变为电信号发送至电子设备,电子设备基于电信...
  • 本发明提供了一种用于对电梯导轨轨距及其共面性进行测量的激光检测仪,包括:激光数据采集器与目标靶;激光测距传感器,设置在激光数据采集器前部,其检测端朝向背离所述激光数据采集器的方向检测;电源开关,与充电接口一同位于激光数据采集器右侧方;控制电...
  • 本发明涉及大型轴系对中测量技术领域,公开了一种激光扰动实时纠偏方法及系统。针对现场热流与振动导致激光基准线漂移影响测径精度的问题,本发明在建立激光基准线后,通过CMOS提取末端光斑动态漂移向量;利用飞秒测距获取各测点实时轴向位置,基于基准距...
  • 本发明公开了一种非球面自适应环形子孔径拼接测量方法及系统,属于光学精密测量技术领域。方法包括:获取非球面面型参数并设定轴向位移量Δ;构建匹配判据函数,确保干涉条纹密度符合探测器奈奎斯特采样极限;基于反演模型自动求解子孔径切点位置与参考球面波...
  • 本发明公开了一种双向显示和操作的激光测径仪及方法,涉及激光测径仪技术领域,包括:系数标定模块,用于生成第一泄漏条带与第二泄漏条带,基于第一泄漏条带与第二泄漏条带确定等效吸收系数;参考记录模块,用于记录参考像元的参考基准与参考距离;泄漏场计算...
  • 本发明涉及图像处理技术领域,尤其涉及多表面干涉层析学习预测多层元件面形与厚度变化的方法,包括利用泽尼克多项式构造两层元件的各表面面形分布;基于干涉理论模型构建多表面干涉图;利用基于两层元件的初始多表面干涉图及对应相移干涉图对层析神经网络模型...
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