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  • 本发明实施例涉及集成电路与芯片设计技术领域,提供一种面向SOC芯片模拟验证加速方法,该方法包括:获取SOC芯片的模拟验证请求;响应于所述模拟验证请求,将所述SOC芯片的处理器核与所述SOC芯片的外设设备通过预设的电路配置接口进行连接,其中,...
  • 本发明公开了一种大面阵红外图像传感器数字电路设计的验证方法,包括:对待验证的数字电路设计特征进行分析,得到分析结果;对数字电路设计中的各模块进行分类,得到若干待建模模块;根据分析结果,对待建模模块的输入输出以及功能进行建模,形成若干通用验证...
  • 一种芯片验证系统、方法及相关设备,在所述芯片验证系统中,多个第一被测设计的验证环境集成为所述第一验证环境,与所述多个第一被测设计分别设置对应的验证环境的方式相比,能够减少验证环境的数量,从而有利于降低验证环境之间的集成难度,且有利于降低管理...
  • 本申请提供一种处理器验证平台、方法、电子设备及存储介质。处理器验证平台,用于部署于电子设备上,所述处理器验证平台包括:虚拟硬件环境模块,包括模型库,所述模型库包括多个软件模型;测试控制系统模块,用于接收环境配置指令和配置文件;所述测试控制系...
  • 本申请涉及芯片技术领域,提供了一种芯片驱动参数配置方法以及芯片驱动参数配置装置,可以基于待驱动外部设备的工作状态信息,从预设的关联关系中确定目标芯片驱动待驱动外部设备的初始时序参数以及初始电气参数,而后根据待驱动外部设备与目标芯片之间的物理...
  • 本公开涉及人工智能芯片以及用于人工智能芯片的测试访问方法。基于本申请,人工智能芯片的片内功能模块可以具有控制逻辑比JTAG逻辑简化的同步转换电路,该同步转换电路的转换控制器可以基于由外部主机维护的控制状态,控制外部主机通过JTAG接口写入的...
  • 本发明的一种功率SiC D‑MOSFET半导体器件温度特性建模方法,属于功率电子器件建模领域,该方法基于BSIM3HV并联反向PNJDiode的器件模型,用于功率半导体器件在宽温域特性的仿真模拟,包括步骤:(1)通过实际测量或规格手册提取所...
  • 本发明公开了一种基于深度时空特征提取与注意力加权的双馈风机参数辨识方法,包括数据采集与高相关性特征集构建,构建CNN‑LSTM‑Attention混合神经网络辨识模型,辨识模型训练与参数优化以及双馈风机控制器参数辨识;解决目前在暂态工况下双...
  • 本发明公开了一种极低温下互补金属氧化物半导体管模型的建立方法及系统,至少在两个极低温点获取CMOS管电学特性曲线,或者对模型已知的CMOS管进行曲线拟合;基于获取的至少两个低温点的CMOS管电学特性曲线,预测目标温度T_target下CMO...
  • 本发明提供了一种用于LC滤波器插入损耗计算的自动化系统及方法,涉及电子电路设计与信号处理技术领域,系统包括:参数输入模块用于配置滤波器阶数、首阶元件类型及源、负载复阻抗;元件库管理模块用于获取元件在多频点下的复阻抗数据;滤波器电路库模块用于...
  • 本申请涉及一种整晶圆功率半导体器件电热参数分布仿真方法及装置,该方法通过设定第一工况参数并结合多物理量参数的采集结果进行分析,对整晶圆器件进行径向多区域划分,建立了精细化的电热参数分布计算模型,实现对整晶圆功率半导体器件径向多区域电接触电阻...
  • 本发明公开了一种基于SAC算法的LDMOS器件电学性能优化方法,属于半导体功率器件设计技术领域。该方法包括:在工艺参数范围内采样,利用TCAD仿真提取电学特性构建数据集;构建深度神经网络代理模型并进行训练;设计状态空间、动作空间及奖励函数,...
  • 本发明公开了一种共地变换器拓扑推导方法,属于变换器技术领域。包括:确定共地变换器拓扑的节点数na和开关数nb;根据双接地特征电路,令输入电源的负极与输出端的负极共地;根据节点数和开关数,构建邻接矩阵;向所述邻接矩阵插入电容、电感,得到所有拓...
  • 本公开提供了一种数据验证系统以及验证方法,该方法包括:验证模块,用于生成第一信号格式的目标信号发送给传输模块,以及通过传输模块接收基于目标信号生成的模拟运算结果,并根据模拟运算结果和目标信号的真实运算结果进行比较,得到验证结果;传输模块,用...
  • 本申请涉及PCB设计领域,具体涉及一种DCDC模块自动设计方法、交互系统及电子设备。该方法包括从待布局的DCDC模块中获取目标模块;结合原理图获取目标模块的电路参数和功能参数,并根据功能参数划分元器件,以确定每个功能对应的元器件;结合电路参...
  • 本发明提供一种芯片级布局的应力仿真系统、计算机设备,属于半导体器件制造领域。所述应力管理仿真系统采用材料属性数据库、仿真引擎模块、热循环仿真模块以及布局配置优化模块的虚拟仿真框架,通过仿真引擎模块模拟材料在芯片上的热膨胀和应力分析,生成初始...
  • 本申请公开了一种芯片寄生电阻网络的可视化方法、电子设备及存储介质,涉及芯片技术领域,所述方法包括:根据芯片的寄生参数文件获取芯片中所有为导体的堆叠结构产生的寄生电阻网络的二维网表数据,根据芯片的工艺参数文件获取芯片的堆叠结构数据表,根据堆叠...
  • 本申请实施例提供了一种生成板卡设计文件的方法、装置及相关设备,其中,所述生成板卡设计文件的方法,包括:对待设计板卡中各功能模块的需求进行分析,生成模块需求分析结果;基于所述模块需求分析结果,判断所述功能模块的可读性等级;基于可读性等级,生成...
  • 本申请涉及一种芯片产品的生成方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品。所述方法包括:基于互连逻辑生成策略,对初始功能网表和芯片设计数据进行处理,得到待生成芯片的目标功能网表;基于布局生成算法、目标功能网表和芯片设计数据,确定目标物理布...
  • 本发明公开一种信号质量优化方法、装置及介质,涉及电路设计技术领域,针对在BGA等封装密集区域无法通过地过孔改善回流路径的问题,提供一种信号质量优化方法。在电源过孔处增加电容以连接至接地层。使得信号回流路径可以通过电源过孔经由电容直接到达地平...
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