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龙图腾网获悉厦门大学申请的专利一种工程尺寸辐照材料的强度连续预测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121877573B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610327842.0，技术领域涉及：G01N3/08；该发明授权一种工程尺寸辐照材料的强度连续预测方法及装置是由冉广;朱士坤;丁一帆;王左江设计研发完成，并于2026-03-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种工程尺寸辐照材料的强度连续预测方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及强度预测技术领域，特别涉及一种工程尺寸辐照材料的强度连续预测方法及装置。该方法包括：获取不同尺寸谱系下不同尺寸点的第一拉伸试样经未辐照拉伸试验得到的第一强度数据；将第一拉伸试样中标距段的横截面积和第一强度数据输入到未辐照强度预测模型中，得到第一参数集合；获取不同尺寸点的第二拉伸试样经辐照后拉伸试验得到的第二强度数据；将第二拉伸试样中标距段的横截面积、第一参数集合和第二强度数据输入到辐照后强度预测模型中，得到第二参数集合；将工程尺寸辐照材料的横截面积输入到拟合后的辐照后强度预测模型中，得到工程尺寸辐照材料的预测强度数据。上述技术方案能够对工程尺寸辐照材料的强度进行连续预测。

本发明授权一种工程尺寸辐照材料的强度连续预测方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种工程尺寸辐照材料的强度连续预测方法，其特征在于，包括： 获取不同尺寸谱系下不同尺寸点的第一拉伸试样经未辐照拉伸试验得到的第一强度数据；其中，不同尺寸谱系包括由小到大依次递进的纳米拉伸区、微米拉伸区和毫米拉伸区； 将第一拉伸试样中标距段的横截面积和第一强度数据输入到待拟合的未辐照强度预测模型中，拟合得到第一参数集合； 获取纳米拉伸区下不同尺寸点的第二拉伸试样经辐照后拉伸试验得到的第二强度数据；其中，辐照工况下的目标位移损伤剂量为1dpa； 将第二拉伸试样中标距段的横截面积、第一参数集合和第二强度数据输入到待拟合的辐照后强度预测模型中，拟合得到第二参数集合； 将工程尺寸辐照材料的横截面积输入到拟合后的辐照后强度预测模型中，得到工程尺寸辐照材料的预测强度数据；其中，工程尺寸为毫米拉伸区的尺寸，第一强度数据、第二强度数据和预测强度数据的类型均包括屈服强度和抗拉强度； 未辐照强度预测模型为： 式中，为横截面积为时的未辐照样品强度，d为最小特征尺寸，为平均晶粒尺寸，为通道权重函数，和分别为位错源受限通道和多晶统计通道的强度函数，为可选削弱项； 第一参数集合包括转折面积参数、峭度参数、强度参数、第一系数、第二系数、下界参数、宏观极限参数、收敛参数、第三系数、谷深参数、谷中心面积参数和对数方差参数，第二参数集合包括待拟合的位错源项增量参数和辐照缺陷硬化项参数； 在辐照后强度预测模型中，最小特征尺寸为未辐照强度预测模型中的最小特征尺寸和位错源项增量参数之和，宏观极限参数为未辐照强度预测模型中的宏观极限参数和辐照缺陷硬化项参数之和； 通道权重函数为： 式中，为待拟合的转折面积参数，为待拟合的峭度参数，在A域内取值范围为0~1； 位错源受限通道的强度函数为： 式中，依次为待拟合的强度参数、第一系数、第二系数； 多晶统计通道的强度函数为： 式中，为待拟合的下界参数，为待拟合的宏观极限参数，为待拟合的收敛参数，为待拟合的第三系数，为标距段中包括的平均晶粒数； 可选削弱项为： 式中，依次为待拟合的谷深参数、谷中心面积参数、对数方差参数；当实验数据不存在削弱特征时，令=0。

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