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龙图腾网获悉西南科技大学申请的专利一种材料残余应力深度分布的检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116380949B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310291729.8，技术领域涉及：G01N23/20；该发明授权一种材料残余应力深度分布的检测方法是由谢瑞士;李园利设计研发完成，并于2023-03-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种材料残余应力深度分布的检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种材料残余应力深度分布的检测方法，包括：样品的前处理；采集样品的X射线衍射全谱，确定残余应力测试的衍射晶面；采集样品不同深度的X射线应力图谱，计算X射线对样品的穿透深度，拟合X射线掠入射角与X射线对样品穿透深度的关系；基于采集的样品的X射线应力图谱，采用应力表达式计算得出样品不同深度的残余应力结果，确定样品残余应力分布与X射线穿透样品不同深度的函数关系。本发明可以克服传统剥层法判定应力深度方法的不足，对增加客观性和评价的准确性具有积极的意义，可为其它块体和薄膜材料的残余应力深度分布、样品疲劳寿命、关键零部件的可靠性、质量控制分析研究提供借鉴。

本发明授权一种材料残余应力深度分布的检测方法在权利要求书中公布了：1.一种材料残余应力深度分布的检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一、样品的前处理； 步骤二、采集样品的X射线衍射全谱，确定残余应力测试的衍射晶面； 步骤三、采集样品不同深度的X射线应力图谱，计算X射线对样品的穿透深度，拟合X射线掠入射角与X射线对样品穿透深度的关系； 步骤四、基于步骤三采集的样品的X射线应力图谱，采用应力表达式计算得出样品不同深度的残余应力结果，确定样品残余应力分布与X射线穿透样品不同深度的函数关系； 所述步骤三中，拟合X射线掠入射角与X射线对样品穿透深度的关系采用最小二乘法进行拟合，拟合得到的X射线掠入射角与对样品穿透深度的关系为τ=0.0459+4.49275ω，其中τ为X射线穿透样品深度，ω为X射线掠入射角； 所述步骤四包括： 计算样品的正应变，根据平面应力下的胡克定律及空间关系式，得到样品正应变与sin2ψ的关系式，ψ为X射线扫描的倾转角； 没有应力时，如果用一束单色X射线入射样品，则衍射条件满足布拉格方程，将微分后的布拉格方程和样品X射线扫描方向的线应变关系式带入样品正应变与sin2ψ的关系式中，计算得到样品残余应力的计算公式； 最后根据多个残余应力数据绘制待测试样品的残余应力深度分布曲线；根据非线性拟合的数学方法，确定残余应力分布与不同深度的函数关系。

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