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龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利基于光克尔效应的超短脉冲同步测试装置与方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116358716B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310438504.0，技术领域涉及：G01J11/00；该发明授权基于光克尔效应的超短脉冲同步测试装置与方法是由范薇;张天宇;徐英明;汪小超;刘诚;孙明营;朱健强;张生佳设计研发完成，并于2023-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于光克尔效应的超短脉冲同步测试装置与方法在说明书摘要公布了：一种基于光克尔效应的超短脉冲同步测试装置与方法。多束待同步的高功率密度超短脉冲经过光克尔介质后会发生感应双折射效应，该效应会瞬时改变参考光束的偏振特性，通过参考信号脉冲的振幅或者相位变化来测量多束超短脉冲之间的同步。该方法可以实现大角度的超短脉冲在靶点处的同步测量，具有测量精度高，可重复性好，稳定度高等优点。

本发明授权基于光克尔效应的超短脉冲同步测试装置与方法在权利要求书中公布了：1.一种基于光克尔效应的超短脉冲同步测试装置，其特征在于，包括： 外部注入信号光1，作为参考光，为皮秒脉冲光或飞秒脉冲光； 起偏器2，用于调整所述的外部注入信号光1的偏振方向； 延迟线3，用于产生空间延迟，调节所述的外部注入信号光1的时间延迟，并入射至光克尔介质4； 光克尔介质4，待２束或多束同步脉冲入射至该光克尔介质4产生光克尔效应，从而改变所述的外部注入信号光1的偏振态； 检偏器5，该检偏器5的光轴方向与所述的起偏器2的光轴方向垂直，用于检测光克尔效应； 探测器6，用于检测经检偏器5透射或反射后的脉冲强度和相位分布； 控制及数据处理模块7，用于控制所述的探测器6和所有延迟线，并对获取的数据进行处理，获取不同待同步脉冲与外部注入信号光1之间的延迟信息，与待同步脉冲的多束待同步脉冲同步； 第一束待同步脉冲8，第N束待同步脉冲11为需要实现同步的N束脉冲，为皮秒或飞秒脉冲光，其中N≥2；该N束待同步脉冲与外部注入信号光1之间的夹角在0，π范围内； 第一路延迟线9，第N路延迟线12，用于产生空间延迟，分别用来调节所述的第一束待同步脉冲8，第N束待同步脉冲11的时间延迟； 第一路半波片10，第N路半波片13，分别用于控制经过第一路延迟线9，第N路延迟线12后的第一束待同步脉冲8，第N束待同步脉冲11的偏振方向，随后入射至光克尔介质4内产生光克尔效应。

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