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龙图腾网获悉日东电工株式会社申请的专利光学层叠体的检查方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115989407B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180053420.4，技术领域涉及：G01N21/892；该发明授权光学层叠体的检查方法是由木樽智也;山下裕司设计研发完成，并于2021-03-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本光学层叠体的检查方法在说明书摘要公布了：提供一种能够抑制对存在于剥离膜的表面的缺陷的过度检测并高精度地检测存在于偏光片与光学膜之间的缺陷的光学层叠体的检查方法。本发明包括以下工序：透射检查工序S1，基于利用透过光学层叠体S的光生成的透射图像来检测缺陷候选；正交尼科尔棱镜检查工序S2，基于利用透过检查用偏振滤光片6a、6b和光学层叠体的光生成的正交尼科尔棱镜图像来检测缺陷候选，该检查用偏振滤光片6a、6b以相对于偏光片10的偏光轴成为正交尼科尔棱镜的方式配置；反射检查工序S3，基于利用由光学层叠体反射的光生成的反射图像来检测缺陷候选；以及运算工序S4，将在透射检查工序和正交尼科尔棱镜检查工序这两方中检测出而在反射检查工序中未检测出的缺陷候选判定为是存在于偏光片与光学膜20之间的缺陷。

本发明授权光学层叠体的检查方法在权利要求书中公布了：1.一种光学层叠体的检查方法，该光学层叠体是将偏光片和光学膜层叠、并进一步在厚度方向的至少一方的最表面侧层叠剥离膜而成的光学层叠体，所述光学层叠体的检查方法包括以下工序： 透射检查工序，利用透过所述光学层叠体的光来生成所述光学层叠体的透射图像，并基于所述透射图像来检测存在于所述光学层叠体的缺陷候选； 正交尼科尔棱镜检查工序，利用透过检查用偏振滤光片和所述光学层叠体的光来生成所述光学层叠体的正交尼科尔棱镜图像，并基于所述正交尼科尔棱镜图像来检测存在于所述光学层叠体的缺陷候选，所述检查用偏振滤光片以相对于所述偏光片的偏光轴成为正交尼科尔棱镜的方式配置； 反射检查工序，利用由所述光学层叠体反射的光来生成所述光学层叠体的反射图像，并基于所述反射图像来检测存在于所述光学层叠体的缺陷候选；以及 运算工序，基于在所述透射检查工序中检测出的缺陷候选、在所述正交尼科尔棱镜检查工序中检测出的缺陷候选以及在所述反射检查工序中检测出的缺陷候选，来判定存在于所述偏光片与所述光学膜之间的缺陷， 其中，在所述运算工序中，将在所述透射检查工序和所述正交尼科尔棱镜检查工序这两方中检测出而在所述反射检查工序中未检测出的缺陷候选判定为是存在于所述偏光片与所述光学膜之间的缺陷。

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