电子科技大学吴亚飞获国家专利权
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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种宽带无过孔可复用介电常数测量装置及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115542019B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211258956.2，技术领域涉及：G01R27/26；该发明授权一种宽带无过孔可复用介电常数测量装置及测量方法是由吴亚飞;宋晓炫;游青;王洪斌;牛中乾;何宗锐;杨海宁;李廷军;赵明华;王成;张波;樊勇;程钰间设计研发完成，并于2022-10-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种宽带无过孔可复用介电常数测量装置及测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种宽带无过孔可复用介电常数测量装置及测量方法，包括金属地板、金属垫片、待测基片、周期性电磁带隙结构和标准波导结构，测试结构的标准波导结构从下往上依次为标准法兰、标准波导，周期性电磁带隙结构包含两个矩形耦合孔和周期性矩形金属柱；本发明的馈电通过标准波导通过耦合孔耦合；本发明通过间隙波导形成的谐振腔对以封装材料为代表的薄膜或薄片形介质的介电常数进行测试，相对于传统的测试方法，本方法的介质基片加工简单、不需打孔且测试精度较高。
本发明授权一种宽带无过孔可复用介电常数测量装置及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种宽带无过孔可复用介电常数测量装置，其特征在于：依次包括金属地板、金属垫片、待测基片、周期性电磁带隙结构和标准波导结构； 所述金属地板位于所述可复用介电常数测量装置的最底端，所述金属垫片位于所述金属地板上方；所述待测基片位于金属地板与周期性电磁带隙结构之间；所述周期性电磁带隙结构位于所述金属垫片上方；所述标准波导结构位于所述周期性电磁带隙结构上方。
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