中国科学技术大学王超获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学技术大学申请的专利X射线磁圆二色谱测量系统及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114858831B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210637079.3，技术领域涉及：G01N23/083；该发明授权X射线磁圆二色谱测量系统及测量方法是由王超;张文华;闫文盛设计研发完成，并于2022-06-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本X射线磁圆二色谱测量系统及测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种X射线磁圆二色谱测量系统及测量方法，该X射线磁圆二色谱测量系统包括：信号发生模块、功率放大模块、电磁铁模块、信号采集模块以及锁相放大模块。通过交变磁场调制XMCD信号结合锁相放大技术，有效的避免了弱XMCD信号湮没在较高的吸收谱背底中，能够实现弱XMCD信号的高精度测量，并且该测量系统和测量方法具有结构简单、建设成本低且调试难度低的优点。
本发明授权X射线磁圆二色谱测量系统及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种X射线磁圆二色谱测量系统，其特征在于，包括： 信号发生模块，所述信号发生模块接收控制指令并发出低功率信号，所述低功率信号分为两路，一路作为参考信号，另一路作为调制信号； 功率放大模块，所述功率放大模块接收调制信号并将调制信号放大为同频率的高功率交变励磁电流； 电磁铁模块，所述电磁铁模块在高功率交变励磁电流的作用下产生频率≥1kHz的交变磁场并作用于待测样品上； 信号采集模块，用于采集待测样品的X射线吸收谱信号； 以及锁相放大模块，所述锁相放大模块分别接收参考信号和X射线吸收谱信号，从背底信号中分离出交流的XMCD信号。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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