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龙图腾网获悉齐鲁工业大学(山东省科学院)申请的专利基于偏振差异与波段融合的釉面纹样结构化特征提取方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121685985B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610170682.3，技术领域涉及：G06V10/40；该发明授权基于偏振差异与波段融合的釉面纹样结构化特征提取方法是由雷温馨;高纪洋;名小川设计研发完成，并于2026-02-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于偏振差异与波段融合的釉面纹样结构化特征提取方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于偏振差异与波段融合的釉面纹样结构化特征提取方法,属于图像处理技术领域。通过采集同一纹样在不同偏振角与不同照明波段下的多幅图像，首先对多帧图像进行配准；接着计算偏振参数并检测高光区域；然后基于偏振度物理模型估计并抑制镜面反射分量，得到去高光纹样图像；随后对图像进行颜色与尺度归一化处理；最后，从归一化图像中分割并细化出纹样骨架，提取颜色、曲线、周期及纹理特征，融合生成结构化特征编码。本发明能有效抑制高光干扰，提升纹样细节的清晰度与可读性，实现不同采集条件下数据的一致性与可复现性，并输出可检索的结构化特征，极大提高了釉面纹样数字化记录、管理与研究的效率。

本发明授权基于偏振差异与波段融合的釉面纹样结构化特征提取方法在权利要求书中公布了：1.一种基于偏振差异与波段融合的釉面纹样结构化特征提取方法，其特征在于，包括如下步骤： S1：获取同一釉面纹样区域在多组成像条件下的原始图像集合；所述多组成像条件至少包括不同偏振角序列，以及不同照明波段序列； S2：对所述原始图像集合进行图像配准，使得所有图像中的同一物理点映射至同一像素坐标，得到配准后图像集合； S3：基于所述配准后图像集合中不同偏振角的图像，计算各像素的偏振参数； S4：根据所述偏振参数及像素强度，生成标识镜面高光区域的二值掩膜； S5：基于所述偏振参数及所述二值掩膜，从所述配准后图像集合中估计并移除镜面反射分量，得到去高光纹样图像； S6：对所述去高光纹样图像进行颜色通道校正，输出颜色与尺度归一化后的标准纹样图像； S7：对所述标准纹样图像进行纹样区域分割与骨架化处理，提取纹样的几何骨架； S8：基于所述标准纹样图像与所述几何骨架，提取并融合颜色、曲线、周期及纹理特征，生成所述釉面纹样的结构化特征。

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