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龙图腾网获悉井冈山大学申请的专利基于电气特性的PCB飞针测试路径优化方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121522421B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511609252.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于电气特性的PCB飞针测试路径优化方法是由龙满生;王洪广;刘宇安;桂海龙;王昆林;李鸿骏设计研发完成，并于2025-11-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于电气特性的PCB飞针测试路径优化方法在说明书摘要公布了：本发明涉及探针测试技术领域，尤其涉及一种基于电气特性的PCB飞针测试路径优化方法，包括根据板面测试点和元件的分布计算测试点的可访问性评分确定测试点的风险类型，根据可访问性评分结合潜在阴影区确定网格单元对应的风险区等级；根据网格单元对应的风险区等级优化探针的测试路径并调节探针的测试路径在不同网格单元的初始移动速度；针对不同探针组的同一移动时序，根据探针对应的初始探针角度和测试路径确定重叠网格，结合探针在不同网格单元的初始移动速度确定探针之间是否存在碰撞风险；在探针之间存在碰撞风险时，根据重叠网格的数量采取相应的调节措施。本发明基于板面的电气特性与可测试性设计结合多维度优化测试路径。

本发明授权基于电气特性的PCB飞针测试路径优化方法在权利要求书中公布了：1.一种基于电气特性的PCB飞针测试路径优化方法，其特征在于，包括： 基于网格单元标注值和探针的测试参数对按照初始分辨率划分的各网格单元进行识别，以基于识别结果联立测试点之间的间隔距离确定各网格单元内测试点对应的初始探针角度； 获取若干测试点之间的邻近间距确定测试点密度类型以合并对应网格单元，并基于若干测试点在网格单元内的分布情况划分区域类型以确定探针组对于若干测试点的测试顺序； 响应于测试点是否存在对地检测需求确定探针组测试移动方法，基于板面图像的板面污损区域识别情况相应调节探针组测量测试点是否导通的判定标准； 基于板面测试点和元件的分布获取若干测试点的可访问性评分以联立各网格单元识别结果确定各网格单元对应的风险区等级； 基于各网格单元对应的风险区等级优化探针的测试路径并结合所述可访问性评分调节探针的优化测试路径所处网格单元对应的初始移动速度； 针对不同探针组的同一移动时序基于探针对应的初始探针角度和测试路径确定重叠网格以结合探针在各网格单元对应的初始移动速度确定探针之间是否存在碰撞风险； 响应于探针之间的碰撞风险，根据所述重叠网格的数量确定调节探针对应的初始探针角度或移动参数。

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