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龙图腾网获悉悦芯科技股份有限公司申请的专利一种存储器测试设备的inline校准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121415844B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202512015019.4，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权一种存储器测试设备的inline校准方法是由高二猛;张悦;杨爱民;鲁波;朱超设计研发完成，并于2025-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储器测试设备的inline校准方法在说明书摘要公布了：本发明涉及存储器校准技术领域，具体公开了一种存储器测试设备的inline校准方法，包括以下步骤：在测试程序初始化阶段，定义校准对象、校准触发条件，并在内存中建立校准参数表，所述校准参数表用于存储各测试参数的最新校准值；测试机按照正常测试流程对存储器器件进行测试；在测试流程的空闲间隙或特定节点，实时监测所述校准触发条件是否满足，若否，则返回继续执行正常测试流程；若是，则进入校准流程；测试程序自动调用校准子程序进行校准；利用更新后的校准参数，继续对下一个或下一批存储器器件执行测试流程。本发明无需中断生产，避免传统离线校准的长时间停机，大幅提升测试设备利用率和生产效率。

本发明授权一种存储器测试设备的inline校准方法在权利要求书中公布了：1.一种存储器测试设备的inline校准方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：校准策略配置：在测试程序初始化阶段，定义校准对象、校准触发条件，并在内存中建立校准参数表，所述校准参数表用于存储各测试参数的最新校准值； S2：执行测试流程：测试机按照正常测试流程对存储器器件进行测试； S3：校准触发判断：在测试流程的空闲间隙或特定节点，实时监测所述校准触发条件是否满足，若否，则返回S2继续执行正常测试流程；若是，则进入S4校准流程； S4：Inline校准执行：测试程序自动调用校准子程序进行校准； S5：无缝继续测试：利用更新后的校准参数，返回S2继续对下一个或下一批存储器器件执行测试流程； 在所述步骤S4中，测试程序自动调用校准子程序，执行以下操作： S4.1：通道切换：通过测试机内部的开关矩阵，将被校准的测试通道从连接存储器器件的状态切换至连接测试机内部测量单元的状态； S4.2：参数测量：测试机控制其信号发生单元向该通道施加目标激励信号，同时通过内部的测量单元对该通道的实际输出信号进行采样测量，得到被测参数的实际测量值； S4.3：误差计算与补偿：将步骤S4.2得到的实际测量值与预设的目标标准值进行比较，计算误差值Δ=实际值-目标值，根据所述误差值计算补偿值，补偿值=-Δ×补偿系数，并对该通道的相应参数配置进行实时更新和补偿； S4.4：更新校准参数表：将计算得到的最新补偿值或校准后的参数值更新至所述校准参数表中； S4.5：通道恢复：完成校准后，将测试通道从连接测量单元的状态切换回连接存储器器件的状态。

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