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龙图腾网获悉无锡景鑫电子科技有限公司申请的专利一种电子元件老化测试装备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120334645B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510710381.0，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种电子元件老化测试装备是由缪芳芳;弭尚刚;何钰婷设计研发完成，并于2025-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子元件老化测试装备在说明书摘要公布了：本发明涉及电子元件测试技术领域，具体提供了一种电子元件老化测试装备，包括支撑座和测试工作台，支撑座上设有离心旋转机构，测试工作台连接在离心旋转机构上；所述测试工作台上设有多个测试工位，单个测试工位上设有多个连接端子，位于同一侧的多个连接端子的下端高度依次递减；位于同一侧且下端处于同一高度的多个测试工位的连接端子下端电性接接有一个测试电柱；离心旋转机构带动测试工作台离心旋转，能够模拟航空飞行中的重力加速度环境；同一测试工位设置多个高度递减的连接端子能够穿接多个测试电柱，实现多引脚同步测试；本发明结合离心旋转动态测试、多引脚同步测试及散热优化，显著提升了电子元件老化测试的效率和准确性。

本发明授权一种电子元件老化测试装备在权利要求书中公布了：1.一种电子元件老化测试装备，包括两个支撑座1和设于两个支撑座1之间的测试工作台2； 其特征在于：两个所述支撑座1上均设有离心旋转机构4，测试工作台2的两端连接在离心旋转机构4上，通过离心旋转机构4带动测试工作台2离心旋转以模拟航空飞行过程的重力加速度环境； 两个所述离心旋转机构4均包括转轴41和套接于转轴41上的偏心轮42，转轴41通过转动连接件装于支撑座1上，测试工作台2通过销轴活动连接在偏心轮42上； 其中一个所述支撑座1上装有驱动电机5，驱动电机5的输出端连接对应位置的离心旋转机构4的转轴41； 另一个所述支撑座1上设有集电环6，测试电柱3通过集电环6与测试设备转动连接； 所述测试工作台2上设有多个测试工位21，单个所述测试工位21上设有多个连接端子9，位于同一侧的多个连接端子9的下端高度依次递减； 位于同一侧且下端处于同一高度的多个测试工位21的连接端子9下端电性接穿接有一个测试电柱3，单个测试电柱3对应控制一个测试项目。

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