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龙图腾网获悉浙江大学申请的专利一种基于超构透镜赛德尔像差的光学系统设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120215107B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510198011.3，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权一种基于超构透镜赛德尔像差的光学系统设计方法是由郑臻荣;章昶威设计研发完成，并于2025-02-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于超构透镜赛德尔像差的光学系统设计方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光学设计技术领域，提供一种基于超构透镜赛德尔像差的光学系统设计方法，基于超构透镜赛德尔像差的光学系统设计方法包括：确定超构表面的赛德尔像差函数；其中赛德尔像差函数包括球差系数、彗差系数和像散系数；根据赛德尔像差函数确定目标函数；根据目标函数进行优化处理，得到优化处理结果；根据优化处理结果确定目标光学系统的结构参数。通过上述方式，本发明建立了超构透镜赛德尔像差的计算体系，该体系所计算出的超构透镜赛德尔像差能够直接与传统折反射系统的赛德尔像差进行线性叠加，这一特性为复合光学系统设计提供理论基础，最终实现超构透镜与传统光学系统的像差协同设计。

本发明授权一种基于超构透镜赛德尔像差的光学系统设计方法在权利要求书中公布了：1.一种基于超构透镜赛德尔像差的光学系统设计方法，其特征在于，包括： 确定超构表面的赛德尔像差函数；其中所述赛德尔像差函数包括球差系数、彗差系数和像散系数； 根据所述赛德尔像差函数确定目标函数； 根据所述目标函数进行优化处理，得到优化处理结果； 根据所述优化处理结果确定目标光学系统的结构参数； 所述球差系数表示为： ， 或者，； 所述彗差系数表示为： ， 或者，； 所述像散系数表示为： ， 或者，； 其中，表示序号为i的超构表面左侧介质的折射率，表示序号为i+1的超构表面左侧介质的折射率；表示第一近轴光线与序号为i的超构表面的入射夹角；表示第一近轴光线与序号为i的超构表面的入射高度；表示第一近轴光线与序号为i的超构表面的出射夹角；表示第二近轴光线与序号为i的超构表面的入射夹角；表示第二近轴光线与序号为i的超构表面的入射高度；表示第二近轴光线与序号为i的超构表面的出射夹角；所述第一近轴光线是边缘光线，所述第二近轴光线是主光线；表示序号为i的超构表面的像方焦距；表示入射光的主波长；表示序号为i的超构表面的四阶以上附加相位项。

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