哈尔滨工业大学杨智明获国家专利权
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龙图腾网获悉哈尔滨工业大学申请的专利基于分压器的MIV测试电路及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116482518B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310546477.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权基于分压器的MIV测试电路及测试方法是由杨智明;肖紫文;田力;俞洋;李康荣;乔立岩设计研发完成，并于2023-05-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于分压器的MIV测试电路及测试方法在说明书摘要公布了：本发明属于的测试电路领域，具体涉及基于分压器的MIV测试电路及测试方法。所述公共测试单元，用于切换不同的测试模式，以检测MIV内是否存在开路故障、短路故障或漏电故障；所述分压单元，用于建立MIV组的测试模型；所示电压比较单元，用于判断测试点电压是否在正常电压范围内。本发明提供一种基于分压器的MIV测试电路及测试方法用以解决现有技术可检测故障范围有限的问题。
本发明授权基于分压器的MIV测试电路及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种基于分压器的MIV测试电路，其特征在于，所述MIV测试电路包括公共测试单元、分压单元和电压比较单元 所述公共测试单元，用于切换不同的测试模式，以检测MIV内是否存在开路故障、短路故障或漏电故障； 所述分压单元，用于建立MIV组的测试模型； 所示电压比较单元，用于判断测试点电压是否在正常电压范围内； 所述公共测试单元通过分压单元与电压比较单元相连接； 所述公共测试单元与分压单元相连接，所述分压单元与电压比较单元相连接； 所述公共测试单元1包括测试控制器、第一测试专用MIV、第二测试专用MIV和第三测试专用MIV；所述第一测试专用MIV、第二测试专用MIV和第三测试专用MIV均在中层芯片，所述测试控制器在上层芯片； 所述分压单元2包括上层芯片分压单元和下层芯片分压单元； 所述电压比较单元3包括第一电压比较器31及第二电压比较器32； 所述第一电压比较器及第二电压比较器构成双限电压比较器。
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