京微齐力(北京)科技股份有限公司王潘丰获国家专利权
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龙图腾网获悉京微齐力(北京)科技股份有限公司申请的专利一种FPGA中配置存储器自测试的方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115985378B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211656657.4，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权一种FPGA中配置存储器自测试的方法及装置是由王潘丰;王海力设计研发完成，并于2022-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种FPGA中配置存储器自测试的方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种FPGA中配置存储器自测试的方法及装置。该方法包括：首先，将所述FPGA中所有多路选择器MUX的输入锁定为相同电平；基于并行形式的移位链，向所述配置存储器中写入第一预设向量；然后，基于所述移位链对所述配置存储器进行读取，得到第一读出数据；在所述第一读出数据和第一预设向量一致时，基于所述移位链，向所述配置存储器中写入第二预设向量；基于所述移位链对所述配置存储器进行读取，得到第二读出数据；在所述第二读出数据和第二预设向量一致时，判定所述配置存储器通过测试。如此，实现测试通路并行化，加快测试速度，将MUX输入端固定为相同电平，避免短路问题。对分布式存储器进行自动遍历测试，不限定读写向量，从而完成测试工作。
本发明授权一种FPGA中配置存储器自测试的方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种FPGA中配置存储器自测试的方法，其特征在于，所述方法包括： 在所述FPGA的内建自测试BIST信号为有效时，将所述FPGA中所有独热编码多路选择器MUX的输入端锁定为相同电平； 基于并行形式的移位链，向所述配置存储器中写入第一预设向量； 基于所述移位链对所述配置存储器进行读取，得到第一读出数据； 在所述第一读出数据和第一预设向量一致时，基于所述移位链，向所述配置存储器中写入第二预设向量； 基于所述移位链对所述配置存储器进行读取，得到第二读出数据； 在所述第二读出数据和第二预设向量一致时，判定所述配置存储器通过测试。
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