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龙图腾网获悉上海集成电路研发中心有限公司申请的专利搜索曝光时间的方法和量子效率测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115883821B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211665624.6，技术领域涉及：H04N17/00；该发明授权搜索曝光时间的方法和量子效率测量系统是由杨志明;王凯;朱润一;张悦强设计研发完成，并于2022-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本搜索曝光时间的方法和量子效率测量系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种搜索曝光时间的方法和量子效率测量系统，包括：数据处理模块配置图像采集模块的固定参数，以及配置波长配置装置的波长；控制图像采集模块根据搜索步长和曝光时间初值，确定候选曝光时间的集合，在波长配置装置的波长被配置完成后，通过光纤束接收经波长配置装置配置后的单波段光，从候选曝光时间的集合中多次选择目标曝光时间，在波长配置装置当前波长的环境下多次拍摄图像，判断图像未发生光截止且满足预设的图像饱和约束条件，以及满足图像线性度约束条件，则将目标曝光时间作为搜索到的与当前波长对应的一组曝光时间，直至搜索到与各个波长配置装置的波长分别对应一组曝光时间。该方法用以精确地搜索符合线性度要求的曝光时间。

本发明授权搜索曝光时间的方法和量子效率测量系统在权利要求书中公布了：1.一种搜索曝光时间的方法，应用于量子效率测量系统中的数据处理模块，所述量子效率测量系统包括数据处理模块、图像采集模块和波长配置装置，其特征在于，包括： 配置所述图像采集模块的固定参数，所述固定参数包括最小图像均值差、搜索步长、曝光时间初值和饱和值修正系数，以及配置所述波长配置装置的波长； 控制所述图像采集模块根据所述搜索步长和所述曝光时间初值，确定候选曝光时间的集合，在所述波长配置装置的波长被配置完成后，通过光纤束接收经所述波长配置装置配置后的单波段光，从候选曝光时间的集合中多次选择目标曝光时间，在所述波长配置装置的当前波长的环境下多次拍摄图像，判断所述图像未发生光截止且满足预设的图像饱和约束条件，以及满足图像线性度约束条件，则将所述目标曝光时间作为搜索到的与当前的所述波长配置装置的波长对应的一组曝光时间，直至搜索到与各个波长配置装置的波长分别对应一组曝光时间，一组曝光时间包括三个目标曝光时间； 其中，判断所述图像满足预设的图像饱和约束条件的流程包括：数据处理模块配置图像采集模块的曝光时间为第二曝光时间和第三曝光时间，并对应获取第二图像均值和第三图像均值，若第二图像均值和第三图像均值中的最大值大于设定图像饱和阈值，则停止该单波段光下曝光时间的搜索。

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