浙江大华技术股份有限公司李宁钏获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江大华技术股份有限公司申请的专利表面缺陷检测方法、装置、终端及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115841450B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211166586.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权表面缺陷检测方法、装置、终端及计算机可读存储介质是由李宁钏;严谨;熊剑平;孙海涛;赵蕾;杨剑波设计研发完成，并于2022-09-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本表面缺陷检测方法、装置、终端及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供一种表面缺陷检测方法、装置、终端及计算机可读存储介质，表面缺陷检测方法包括：获取待检测图像；基于参考图像中各参考子图对待检测图像进行分块处理，得到待检测图像对应的多个待检测子图；对待检测子图进行分析，得到待检测子图的表面特征信息；响应于待检测子图的表面特征信息与参考子图的表面预设信息之间的差异不符合对应的预设要求，则确定待检测目标的表面存在缺陷。本申请根据参考图像中的各参考子图对待检测图像进行分块处理得到待检测子图，并确定待检测子图的表面特征信息，根据待检测子图与参考子图之间差异，确定待检测目标的表面是否存在缺陷，该方法不局限待检测目标的类型，进而提高表面缺陷检测方法的泛化性能。
本发明授权表面缺陷检测方法、装置、终端及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种表面缺陷检测方法，其特征在于，所述表面缺陷检测方法包括： 获取待检测图像，所述待检测图像为包含待检测目标的表面图像； 对所述待检测图像进行分割处理，得到所述待检测图像的掩码图像； 从所述待检测图像的掩码图像中提取待检测目标的轮廓，确定待检测目标的轮廓在待检测图像的掩码图像中的位置信息； 响应于参考目标的尺寸与所述待检测目标的尺寸相同且所述待检测目标的轮廓的位置信息与所述参考目标的轮廓在参考图像的掩码图像中的位置信息一致，则基于参考图像中各参考子图对所述待检测图像进行分块处理，得到所述待检测图像对应的多个待检测子图；所述参考图像为表面无缺陷的参考目标的图像； 对所述待检测子图进行分析，得到所述待检测子图的表面特征信息； 响应于所述待检测子图的表面特征信息与所述参考子图的表面预设信息之间的差异不符合对应的预设要求，则确定所述待检测目标的表面存在缺陷。
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