西默有限公司R·A·布尔德特获国家专利权
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龙图腾网获悉西默有限公司申请的专利标准具中测量误差的确定获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115720624B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180045220.4，技术领域涉及：G01J3/26；该发明授权标准具中测量误差的确定是由R·A·布尔德特;J·T·梅尔基奥尔;郑国泰设计研发完成，并于2021-05-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本标准具中测量误差的确定在说明书摘要公布了：访问与标准具相关的信息，标准具与具有预设默认值的校准参数相关联，标准具被配置为从接收的光束产生包括多个条纹的干涉图案，并且与标准具相关的信息包括与多个条纹中的第一条纹相关的第一空间信息和与多个条纹中的第二条纹相关的第二空间信息。基于与第一条纹相关的空间信息和校准参数的初始值来确定接收的光束的第一波长值。基于与第二条纹相关的空间信息和校准参数的初始值来确定接收的光束的第二波长值。比较第一波长值和第二波长值以确定测量误差值。
本发明授权标准具中测量误差的确定在权利要求书中公布了：1.一种用于光源的光学测量装置，所述光学测量装置包括： 标准具，所述标准具包括被配置为将光聚焦在图像平面处的聚焦透镜，其中所述标准具与和所述聚焦透镜相关的校准参数相关联，所述校准参数包括所述聚焦透镜的焦距，并且所述校准参数具有预设默认值； 光学检测器，所述光学检测器被配置为检测由所述标准具产生的干涉图案并且产生与所述标准具相关的信息，所述信息包括用于第一条纹的第一空间信息和用于第二条纹的第二空间信息，所述第一空间信息包括所述第一条纹的直径，并且所述第二空间信息包括所述第二条纹的直径；以及 控制系统，所述控制系统耦合到所述光学检测器，所述控制系统被配置为： 基于来自所述检测器的第一空间信息、所述第二空间信息和所述校准参数的初始值，确定所述标准具的测量误差值；以及 分析所述测量误差值以确定是否调整所述预设默认值。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西默有限公司，其通讯地址为：美国加利福尼亚州；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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