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龙图腾网获悉珠海泰芯半导体有限公司申请的专利芯片测试方法、装置、存储介质及芯片获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115587026B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211180751.7，技术领域涉及：G06F11/3668；该发明授权芯片测试方法、装置、存储介质及芯片是由杨健明;黄立伟;刘浩;张静设计研发完成，并于2022-09-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试方法、装置、存储介质及芯片在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了一种芯片测试方法、装置、存储介质及芯片，涉及芯片领域。本申请使用同一套程序对不同封装方式的芯片进行测试，提高测试过程的兼容性，以及减少测试代码的编写工作量，另外，通过在外部设置片外存储器存储芯片产生的测试数据，相对于测试设备主动在芯片的IO引脚上采集测试数据，可以减少芯片的IO操作，降低芯片的处理开销。

本发明授权芯片测试方法、装置、存储介质及芯片在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于芯片，所述芯片设置有第一调试引脚和第二调试引脚，所述第一调试引脚和所述第二调试引脚为IO引脚，所述第一调试引脚与片外存储器的时钟引脚相连，所述第二调试引脚与所述片外存储器的数据引脚相连；所述芯片的片内存储器设置有启动引导区和主代码区，启动引导区和主代码区呈连续分布，所述芯片根据程序起始地址设置主代码区的起始地址，所述芯片在上电后根据起始地址运行主代码区中的主程序代码； 其中，所述方法包括： 当满足预设条件时，切换到测试模式； 在测试模式下，通过所述第一调试引脚接收时钟信号； 通过所述第二调试引脚接收来自测试设备的测试指令； 根据所述测试指令执行测试操作； 若所述测试操作生成测试数据，将所述测试数据通过所述第二调试引脚写入到片外存储器中；测试指令包括但不限于：读寄存器指令、写寄存器指令、读片内存储器指令、写片内存储器指令、程序继续执行指令和程序起始地址设置指令，根据所述读片内存储器指令读取主代码区中的主程序代码和关联的循环校验CRC码，根据读取的主程序代码计算CRC码，比较读取的CRC码和计算的CRC码是否相同，若相同，则所述主程序代码校验通过，若不相同，则所述主程序代码校验不通过，所述芯片和所述片外存储器之间通过串行外设接口SPI协议进行通信。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人珠海泰芯半导体有限公司，其通讯地址为：519000 广东省珠海市高新区唐家湾镇金唐路1号港湾1号科创园2栋3-4层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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