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龙图腾网获悉深圳中科飞测科技股份有限公司申请的专利定位方法、检测方法和检测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115564821B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110744391.8，技术领域涉及：G06T7/70；该发明授权定位方法、检测方法和检测系统是由陈鲁;祖建成;马砚忠;张嵩设计研发完成，并于2021-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本定位方法、检测方法和检测系统在说明书摘要公布了：一种定位方法、检测方法和检测系统，所述定位方法通过对待测物表面相邻的至少两个参考点进行检测，获取相应的第一待测区第一坐标系下的第一坐标信息，通过获取第一坐标系与所述第二坐标系之间的转换关系，并根据所述转换关系、所述第一待测区在所述第一坐标系下的第一坐标信息和待测区的周期性分布规律，获取所述第一待测区和其他待测区在所述第二坐标系下的第二坐标信息。由于对有限个参考点的检测，可以提高待测区的定位速度，能够根据待测区在第二坐标系下的坐标信息实现对待测点的精确定位，从而可以实现对待测物的待测区进行快速、高精度的检测。

本发明授权定位方法、检测方法和检测系统在权利要求书中公布了：1.一种定位方法，用于对待测物中的待测区进行定位，其特征在于，包括： 提供检测设备，所述检测设备具有第一坐标系； 提供待测物，所述待测物具有第二坐标系；所述待测物表面具有参考点，所述参考点为所述检测设备可识别的点，所述待测物包括多个周期性排列的待测区； 对所述待测区进行初始定位处理，获取待测区的初始排列方向及第一参考点在第一坐标系下的第一参考点坐标；通过检测设备根据所述第一参考点坐标、所述初始排列方向及待测区的排列周期对第二参考点和第三参考点进行查找，获取第二参考点和第三参考点在所述第一坐标系下的参考点坐标信息，所述第一参考点位于所述待测物中心点附近； 根据相邻的第一参考点、第二参考点和第三参考点在所述第一坐标系下的参考点坐标信息和待测区与所述参考点之间的位置对应关系，根据所述第一参考点坐标与所述第二参考点坐标，获取第一待测区的第一延伸方向和所述第一待测区在所述第一延伸方向上的第一尺寸；根据所述第一参考点坐标与所述第三参考点坐标，获取所述第一待测区的第二延伸方向和所述第一待测区在所述第二延伸方向上的第二尺寸； 获取所述第一坐标系与所述第二坐标系之间的转换关系； 根据所述转换关系、所述第一待测区在所述第一坐标系下的第一坐标信息和待测区的周期性分布规律，获取所述第一待测区和其他待测区在所述第二坐标系下的第二坐标信息。

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