浙江帕奇伟业半导体有限公司刘华远获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江帕奇伟业半导体有限公司申请的专利一种半导体芯片测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224203365U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520881972.X，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种半导体芯片测试装置是由刘华远;毛乐乐;蔡昌尉;章天雨;鹿业波;娄骏彬;何亦昕设计研发完成，并于2025-05-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体芯片测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种半导体芯片测试装置，涉及芯片测试领域，包括测试主板，测试主板顶部处突出设置有基座，基座顶部处开设有容纳腔，容纳腔中心处设置有测试腔，容纳腔上容纳设置有限位框座；限位框座的侧边上对称突出设置有限位块，容纳腔的两内侧边上对称开设有限位槽，限位槽与限位块之间配合插接，基座内部对应限位槽处开设有定位腔，定位腔处安装有定位组件，限位块上开设有定位孔，定位孔与定位组件之间配合定位。本实用新型可以在工作前，根据对应芯片尺寸的不同选用对应的限位框座，方便对对应的对应尺寸的芯片进行有效的固定，保证在测试状态时，不同尺寸的芯片能稳定卡接在对应的位置处，不会出现错位等情况。
本实用新型一种半导体芯片测试装置在权利要求书中公布了：1.一种半导体芯片测试装置，包括测试主板1，其特征在于：所述测试主板1顶部处突出设置有基座2，所述基座2顶部处开设有容纳腔3，所述容纳腔3中心处设置有测试腔51，所述容纳腔3上容纳设置有限位框座5； 所述限位框座5的侧边上对称突出设置有限位块6，所述容纳腔3的两内侧边上对称开设有限位槽4，所述限位槽4与所述限位块6之间配合插接，所述基座2内部对应所述限位槽4处开设有定位腔，所述定位腔处安装有定位组件7，所述限位块6上开设有定位孔61，所述定位孔61与所述定位组件7之间配合定位。
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