西安电子科技大学许万业获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利基于插值的天线罩电性能区间分析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116432376B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211689908.9,技术领域涉及:G06F30/20;该发明授权基于插值的天线罩电性能区间分析方法是由许万业;王同天;杨亚伟;仵玉奎;李威亨;吴凯;李鹏设计研发完成,并于2022-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于插值的天线罩电性能区间分析方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于插值的天线罩电性能区间分析方法,包括在天线罩厚度误差范围和相对介电常数误差范围内随机生成多组厚度误差与相对介电常数误差分布值,绘制加罩后的天线远场方向图,从图中提取电性能指标的变化区间,将天线罩上各处的入射角、极化角、厚度及相对介电常数离散化,根据离散点计算主极化分量透射系数TM,提取TM的幅值和相位的变化区间,利用插值得到TM在复数域形成的扇形区间,将扇形区间分割成多边形区间,将多边形区间相加,计算天线罩的远场方向图变化区间,并提取电性能指标变化区间,判断天线罩的电性能指标是否满足预设要求,若满足,则结束,否则修改扇形圆弧部分的分段数,直至获得满足预设要求的电性能指标变化区间。
本发明授权基于插值的天线罩电性能区间分析方法在权利要求书中公布了:1.基于插值的天线罩电性能区间分析方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤1,在天线罩厚度误差范围和相对介电常数误差范围内随机生成多组厚度误差与相对介电常数误差分布值; 步骤2,结合天线罩的结构参数和材料参数,计算透过天线罩后的口径场产生的远场,绘制加罩后的天线远场方向图,从图中提取电性能指标的变化区间; 步骤3,将天线罩上各处的入射角、极化角、厚度及相对介电常数离散化; 步骤4,根据步骤3获得的入射角、极化角、厚度及相对介电常数离散点计算主极化分量透射系数,提取的幅值和相位的变化区间; 步骤5,根据的幅值和相位的变化区间,利用插值得到在复数域形成的扇形区间; 步骤6,将形成的扇形区间分割成多边形区间,调整所述多边形区间的端点顺序,使得起始点在复数域具有最小的虚部,并且所有点按照环绕原扇形的逆时针顺序排列; 步骤7,利用Minkowski求和将多边形区间相加,计算天线罩的远场方向图变化区间,并提取电性能指标变化区间; 步骤8,对比步骤2与步骤7中提取的天线罩电性能指标变化区间,判断天线罩的电性能指标是否满足预设要求,如果满足,则天线罩电性能区间分析过程结束,否则,修改扇形圆弧部分的分段数,并重复步骤6~步骤8,直至获得满足预设要求的电性能指标变化区间。
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