霖鼎光学(上海)有限公司余扬沁获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉霖鼎光学(上海)有限公司申请的专利基于轮廓的微结构评价方法、介质、补偿设计方法及镜片获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121702706B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610210186.6，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权基于轮廓的微结构评价方法、介质、补偿设计方法及镜片是由余扬沁;申玲菲;白雪松;张哲设计研发完成，并于2026-02-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于轮廓的微结构评价方法、介质、补偿设计方法及镜片在说明书摘要公布了：本发明涉及微结构光学表面的评价技术领域，特别是涉及基于轮廓的微结构评价方法、介质、补偿设计方法及镜片。该方法通过获取光学表面微结构区域的三维物理面型轮廓数据，预处理去除宏观基底面型及噪声，在人眼瞳孔平均大小投影区域内计算表征微结构整体波动强度的统计学特性指标Itotal，并将其作为防控信号强度量化值。本发明解决了现有技术无法从物理面型源头评价微结构的问题，克服了传统参数测量区域随意性导致的结果不可比缺陷，建立了物理面型波动强度与近视防控信号强度的直接关联，实现从经验试错向数据驱动的技术升级，为设计验证与制造过程控制提供可靠依据。
本发明授权基于轮廓的微结构评价方法、介质、补偿设计方法及镜片在权利要求书中公布了：1.一种基于轮廓的微结构评价方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： S1：获取光学表面微结构区域的实际三维物理面型轮廓数据； S2：对所述三维物理面型轮廓数据进行预处理，去除宏观基底面型及测量噪声，获得仅反映微结构局部起伏的数据； S3：在对应于人眼瞳孔平均大小在所述光学表面上的投影区域内，对所述预处理后的数据计算至少一个统计学特性指标Itotal，Itotal量化了三维面型在高度方向上的变化特征，用于表征微结构整体波动强度；所述统计学特性指标选自：算术平均高度、均方根高度、峰谷值、平均曲率、高斯曲率、主曲率，以及矢高的统计值中的至少一种；其中，所述矢高的统计值包括平均矢高、矢高标准差或矢高分布的中位数值； S4：将Itotal作为所述光学表面微结构的防控信号强度量化值。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人霖鼎光学(上海)有限公司，其通讯地址为：200241 上海市闵行区元江路525号19幢；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励