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龙图腾网获悉长春黄金研究院有限公司申请的专利银矿物形态的测定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121595400B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610107759.2，技术领域涉及：G01N15/00；该发明授权银矿物形态的测定方法是由王铜;张磊;张世镖;宋超设计研发完成，并于2026-01-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本银矿物形态的测定方法在说明书摘要公布了：本申请提供了一种银矿物形态的测定方法，属于工艺矿物学技术领域。该方法包括以下步骤：银矿石制样、第一次自动矿物学分析、逐层剥离与重复分析、物质组成测定及系数计算、综合形态参数计算、形态统计。本申请通过“表面逐层分析‑三维参数重构”与“工艺产品分析‑分布行为解析”相结合的策略，不仅实现了对银矿物二维三维形态如长宽比、厚度、复杂程度的精确量化，还同步揭示了不同种类银矿物的工艺矿物学特性，为银矿石的粉碎粒度优化、分选工艺选择及流程评价提供了全面、精准的数据支撑，克服了传统方法形态信息单一、与工艺行为关联不足的缺点。

本发明授权银矿物形态的测定方法在权利要求书中公布了：1.一种银矿物形态的测定方法，其特征在于，包括如下步骤： S1，取待测银矿石样品，进行切割、固化处理后，对待观测面进行磨抛及喷碳处理，得到初始观测样品，记为样品Ai1，i为样品的编号； S2，对样品Ai1进行自动矿物学分析，得到银矿物颗粒的参数；所述参数包括银矿物颗粒的含量hm.n、面积Sn1、周长Ln1、粒度dn；其中，n为颗粒编号，m为大于等于1的自然数，代表不同种类的银矿物； S3，对样品Ai1表面进行精细研磨，去除厚度为0.01~0.05mm的材料层，随后进行抛光、喷碳处理，得到新观测面样品Ai2；对样品Ai2进行自动矿物学分析，获取步骤S2中同一批银矿物颗粒在新截面上的对应参数；所述参数包括银矿物颗粒的面积Sn2； S4，对样品Ai2表面进行精细研磨，去除厚度为0.01~0.05mm的材料层，随后进行抛光、喷碳处理，得到新观测面样品Ai3；对样品Ai3进行自动矿物学分析，获取步骤S2中同一批银矿物颗粒在新截面上的对应参数；所述参数包括银矿物颗粒的面积Sn3； S5，取待测银矿石1.0~3.0kg，进行磨矿，控制磨矿细度为-0.074mm占65~90%； 对磨矿后的样品进行重选，重选产率为t，得到重选精矿J1及重选尾矿W1； 取J1全样，制备自动矿物学分析样品J11； 取W1样品3.0~5.0g，制备自动矿物学分析样品w11； 对样品J11及w11进行自动矿物学分析，分别对应测定银矿物物质组成为Jm与Wm，并计算不同种类银矿物的含银量Jm’； S6，计算不同种类银矿物的金属分布系数Km： Km=tJmJm’+1-tWmJm’t∑JmJm’+1-t∑WmJm’； S7，将通过样品Ai1的截面形心的最长弦长记为an，与an垂直的最长弦长记为bn；计算截面长宽比Fn1，Fn1=anbn； S8，计算等效厚度参数Fn2： 当Sn3=0时，Fn2=Sn2dnSn1bn； 当Sn30时，Fn2=Sn3dnSn1bn； S9，根据如下表所示的判断条件确定银矿物颗粒的三维形态； S10，统计银矿物中每种形态的银矿物的相对含量，计算公式如下： Hx=∑Kmhmx，其中，Hx为样品中银矿物形态分布百分含量；x为1、2、3、4、5分别代表微粒状、粒状、片状、棒状、特殊不规则形态； 其中，hmx表示第x种形态的第m种银矿物的相对含量，hmx由x形态的第m种银矿物相对含量加和所得。

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