天津宝兴威科技股份有限公司司荣美获国家专利权
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龙图腾网获悉天津宝兴威科技股份有限公司申请的专利一种导电膜纳米银涂层导电性能检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121559210B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610092370.5，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种导电膜纳米银涂层导电性能检测方法是由司荣美;刘彩风;鲍彦广;赵文雄;郝艳超设计研发完成，并于2026-01-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种导电膜纳米银涂层导电性能检测方法在说明书摘要公布了：本发明属于导电膜纳米银涂层导电性能检测技术领域，具体公开一种导电膜纳米银涂层导电性能检测方法，通过将纳米银涂层划分为规则网格单元，同步提取各单元的形貌特征与电学特征，并基于二者全局统计关联性进行趋势验证，若全局统计相关成立，则开展各向异性一致性缺陷检测，否则启动全域多维度异常筛查，该策略实现了对导电网络结构性能耦合关系这一本征因素的深度诊断，显著提升了检测结果对工艺优化的指导价值，在基于网格单元的形貌特征与电学特征的统计关联性判定异常的前提下，通过对网格单元级线密度、平均方阻及其一致性偏差或极值分布的综合分析识别异常网格，实现对缺陷分布的空间精细化映射与分类表征。
本发明授权一种导电膜纳米银涂层导电性能检测方法在权利要求书中公布了：1.一种导电膜纳米银涂层导电性能检测方法，其特征在于，包括： 在纳米银涂层表面建立矩形网格阵列； 在矩形网格阵列的每个网格单元内，采集纳米银线微观形貌图像与横向、纵向方阻数据； 基于每个网格单元的微观形貌图像与横向、纵向方阻数据分别提取反映纳米银线形貌特征的线密度、主导取向角和反映电学特征的平均方阻、低电阻方向； 对所有网格单元通过分析线密度和平均方阻的统计关联性进行全局趋势验证； 若全局趋势验证通过，则进入各向异性验证，通过比对每个网格单元中纳米银线主导取向角与低电阻方向，识别隐性异常网格； 若全局趋势验证未通过，则进入全域异常筛查，通过分析各网格单元线密度与平均方阻之间的规律背离异常或独立异常，识别显性异常网格； 对所有异常网格进行空间聚类分析，将其聚合为不同属性的缺陷区域。
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