买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉上海伟测半导体科技股份有限公司申请的专利测试方法及其测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121476905B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610004536.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权测试方法及其测试装置是由左上勇;蒋治宇设计研发完成，并于2026-01-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试方法及其测试装置在说明书摘要公布了：本公开涉及集成电路测试领域，提供一种测试方法及其测试装置，应用于测试工具，方法包括以下步骤：确定待测芯片在测试工具的待检测区域内的初始位置；根据初始位置确定待测芯片与待检测区域的测试位置之间的位置偏移；基于位置偏移，控制构成待检测区域对应的至少一个可移动边界产生位移，推动待测芯片至测试位置。能够适配多种封装型号的待测芯片的功能，实现待测芯片的自动对准与夹持，以及测试接口的自动配置，从而解决适配性、精度和效率问题。

本发明授权测试方法及其测试装置在权利要求书中公布了：1.一种测试方法，应用于测试工具，其特征在于，包括以下步骤： 确定待测芯片在所述测试工具的待检测区域内的初始位置；所述待检测区域位于一测试平面内；所述待测芯片携带指示其于测试位置的正确姿态的指示标识； 根据所述初始位置确定所述待测芯片与所述待检测区域的测试位置之间的位置偏移，所述位置偏移包括待测芯片相对所述正确姿态的角度偏移，包括：确定所述待测芯片的指示标识同其在正确姿态中目标位置之间较小的角度偏移； 基于所述位置偏移，控制构成所述待检测区域对应的至少一个可移动边界产生位移，推动所述待测芯片至所述测试位置，包括：基于所述较小的角度偏移确定令所述指示标识到达目标位置的旋转分量的方向和大小；在至少一个可移动边界中处于适于位置以推动所述待测芯片达到所述旋转分量的目标移动单元；控制所述目标移动单元推动所述待测芯片到达所述正确姿态； 所述可移动边界包括多个独立的移动单元线性排列构成；所述基于所述位置偏移，控制构成所述待检测区域对应的至少一个可移动边界产生位移，推动所述待测芯片至所述测试位置，包括：根据待测芯片在所述可移动边界上的投影面积，选择能够覆盖投影面积的部分移动单元形成一个部分可移动的可移动边界，控制所述部分可移动的可移动边界移动，调整待测芯片的位置。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海伟测半导体科技股份有限公司，其通讯地址为：201201 上海市浦东新区东胜路38号A区2栋2F；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。