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龙图腾网获悉南京大学申请的专利约瑟夫森探针的工作温度控制方法及调控Nb膜厚度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121398453B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-05-01发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511946954.6，技术领域涉及：H10N60/80；该发明授权约瑟夫森探针的工作温度控制方法及调控Nb膜厚度的方法是由王华兵;单烁;张平;王永磊;吕阳阳;吴文琪;张扬昊;侯守成;吴培亨设计研发完成，并于2025-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本约瑟夫森探针的工作温度控制方法及调控Nb膜厚度的方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种约瑟夫森探针的工作温度控制方法及调控Nb膜厚度的方法，通过调控膜厚参数，控制探针的工作温度，将Nb基探针工作温度提升至7.2K，创下同类探针最高纪录。本发明的调控Nb膜厚度的方法，选用四槽石英管作为基底，经超声清洗后，采用激光加热法拉制纳米针尖，以获得表面洁净且几何结构可控的针尖结构；将制得的纳米针尖水平固定于探针支架上，采用磁控溅射工艺沉积铌薄膜，控制Nb膜厚度，制备约瑟夫森探针。本发明显著降低了探针对极低温环境的依赖，打破了原有工艺限制，有效拓宽了可用的膜厚范围，显著提高了探针的制备成品率与性能一致性，为近场微波成像和量子传感技术的实用化发展提供了可靠的器件基础。

本发明授权约瑟夫森探针的工作温度控制方法及调控Nb膜厚度的方法在权利要求书中公布了：1.一种约瑟夫森探针的工作温度控制方法，其特征在于：通过精准调控Nb膜厚度，控制约瑟夫森探针的工作温区，探针工作温区呈现明显的膜厚依赖性，通过制备不同膜厚的探针样品，结合系统的电学表征，建立膜厚与工作温区之间的定量关系，在不同温度下对探针施加固定频率、不同功率的微波信号，判断探针是否出现夏皮罗台阶，是否形成弱连接结；具体包括： 通过调节磁控溅射系统中膜厚仪的沉积参数，标定并精确控制Nb薄膜在针尖上的沉积速率，实现对薄膜厚度的精准调控，镀膜厚度40nm至80nm； 系统的电学表征包括电阻-温度测试、电流-电压测试和不同温度下的微波响应测试，电阻-温度测试用于确定探针的超导转变温度，电流-电压测试用于确认探针在实际偏置条件下的稳定工作温度区间，不同温度下的微波响应测试用于验证探针在工作温区内是否出现夏皮罗台阶，从而判断其是否形成有效的弱连接结； 镀膜厚度在40nm时，探针的工作温区为4.0K~5.8K，镀膜厚度在60nm时，探针的工作温区为4.0K~6.5K，镀膜厚度在80nm时，探针的工作温区为5.5K~7.1K。

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