华虹半导体(无锡)有限公司王善屹获国家专利权
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龙图腾网获悉华虹半导体(无锡)有限公司申请的专利芯片测试方法及装置、终端设备、计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116338424B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310019853.9，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试方法及装置、终端设备、计算机可读存储介质是由王善屹设计研发完成，并于2023-01-06向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试方法及装置、终端设备、计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片测试方法及装置、终端设备、计算机可读存储介质，所述芯片测试方法包括：获取每一探针在上一次测试过程中所测试的多个测试芯片的第一测试结果，所述第一测试结果包括失效和未失效，所述多个测试芯片位于同一晶圆；根据所述第一测试结果确定所述多个测试芯片的第一失效程度；在所述第一失效程度达到失效门限阈值时，对第一失效测试芯片重新进行测试，所述第一失效测试芯片为所述第一测试结果为失效的测试芯片。使用上述技术方案能够提高芯片测试的效率。
本发明授权芯片测试方法及装置、终端设备、计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括： 获取每一探针在上一次测试过程中所测试的多个测试芯片的第一测试结果，所述第一测试结果包括失效和未失效，所述多个测试芯片位于同一晶圆； 根据所述第一测试结果确定所述多个测试芯片的第一失效程度，所述第一失效程度根据所述多个测试芯片的连续失效数和或所述多个测试芯片的失效率确定； 在所述第一失效程度达到失效门限阈值时，对第一失效测试芯片重新进行测试，所述第一失效测试芯片为所述第一测试结果为失效的测试芯片。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人华虹半导体(无锡)有限公司，其通讯地址为：214028 江苏省无锡市新吴区新洲路30号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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