中国科学院物理研究所廖国前获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院物理研究所申请的专利太赫兹时空分布单发测量装置、其测量方法及测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119268856B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310831487.7，技术领域涉及：G01J9/00；该发明授权太赫兹时空分布单发测量装置、其测量方法及测量系统是由廖国前;雷弘毅;李玉同设计研发完成，并于2023-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本太赫兹时空分布单发测量装置、其测量方法及测量系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种太赫兹时空分布单发测量装置、其测量方法及测量系统，所述太赫兹时空分布单发测量装置包括：探针光调制组件、电光晶体和成像组件。所述探针光调试系统调整探针光脉宽和大小，所述电光晶体处太赫兹和探针光作用调制探针光偏振，所述成像组件对电光晶体处的探针光进行成像。使用时，探针光被探针光调制组件调制后和太赫兹时空同步的入射在电光晶体处，成像组件将不同波长，不同偏振的探针光斑分别成像。通过对比有无太赫兹时的探针光斑变化可以得到太赫兹的空间分布和时域波形。本发明装置结构简单，易于实施，可在单发条件下测得太赫兹的时空分布。
本发明授权太赫兹时空分布单发测量装置、其测量方法及测量系统在权利要求书中公布了：1.一种太赫兹时空分布单发测量装置，其特征在于，所述太赫兹时空分布单发测量装置包括：探针光调制组件、电光晶体和成像组件；其中， 所述电光晶体位于所述探针光调制组件和所述成像组件之间； 所述探针光调制组件对探针光进行时间和空间调制，所述电光晶体进行电光采样，所述成像组件测量探针光光斑； 并且，所述成像组件包括：透镜、四分之一波片、标准具和透射光栅；和或所述成像组件对所述电光晶体处的探针光光斑进行成像。
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