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龙图腾网获悉沛顿科技(深圳)有限公司申请的专利一种DRAM老化测试数据分析系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115658982B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-04-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211382214.0，技术领域涉及：G06F16/903；该发明授权一种DRAM老化测试数据分析系统是由沈友峰;钟剑桥设计研发完成，并于2022-11-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种DRAM老化测试数据分析系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种DRAM老化测试数据分析系统，涉及DRAM老化测试技术领域；为了便于快速锁定可能失效的原因；包括历史测试数据库、测试数据输入模块、良率数据判断模块、BinMap集中性分析模块、Slot相关性分析模块、BIB相关性分析模块、OVEN相关性分析模块、程序BinGap分析模块、程序失效item分析模块，失效模型分析模块、失效模型输入模块、分析报告和预警模块。本发明通过对良率和机台的相关性建立对应的联系，在生产过程中自动对比测试过程中是否出现异常点，如低良率、失效集中性、BinGap、连续fail，从而可以及时的发现异常的数据，提高数据分析的时效性。

本发明授权一种DRAM老化测试数据分析系统在权利要求书中公布了：1.一种DRAM老化测试数据分析系统，包括历史测试数据库、测试数据输入模块、良率数据判断模块、BinMap集中性分析模块、Slot相关性分析模块、BIB相关性分析模块、OVEN相关性分析模块、程序BinGap分析模块、程序失效item分析模块，失效模型分析模块、失效模型输入模块、分析报告和预警模块，其特征在于，该系统其中一个方向通过硬件良率的集中性分析，判断其和硬件之间存在的相关性，另一个方向根据程序的测试结果，判断异常失效颗粒在某个测试item上集中产生失效的相关性，测试item对失败原因进行反推； 所述良率数据判断模块对测试数据输入模块进行数据判断工作，基于系统抓取系统设定的良率卡控，同类型程序历史生产良率比对，对良品率的标准进行判断，当没有出现异常后，判定为良率正常，判断过程发现异常，对异常状况进行总结，标记Lot基于Normal，Abnormal，NewProgram，若Lot非Normal状态，则对应生产的OVEN会被标记为Abnormal状态，进行硬件分析和程序分析； 所述BinMap集中性分析模块，在良率数据判断模块分析发现良率异常后，按照两个方面进行分析； 1进入BinMap集中性分析模块，系统会抓取测试结果按照BIB的Dut生成对应的BinMap图； 2分析在Bin分布上是否具有集中性Fail，观察是否具有连续Fail和集中Fail的情况，异常情况下标记异常OVEN，Slot，BIB为Abnormal然后输出总结结果，并进入Slot相关性分析模块； 所述Slot相关性分析模块，对BinMap集中性问题进行分析，Slot相关性分析模块未发现BinMap集中性问题后对比各slot良率是否有存在异常，标记该slot，BIB为abnormal，Slot相关性模块会抓取异常slot的历史测试信息，根据测试信息对比异常slot与同OVEN其他slot的良率，判断是否属于slot的异常，输出判断结果，如正常，取消Slotabnormal标记，并进入到BIB相关性分析模块 所述OVEN相关性分析模块，在OVEN标记为Abnormal状态时，对OVEN的历史测试数据进行检索，同时对比其他相同程序的良率，系统会抓取测试过程中的温度曲线，计算升降温的时间是否在允许范围内，二者如都在可接受范围，则该OVEN的abnormal标记将会被取消输出硬件部分的总结给到失效模型分析模块。

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